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高温环境对设备的主要影响有：

a. 填充物和密封条软化或融化；

b. 润滑剂粘度降低，挥发加快，润滑作用减小；

c. 电子电路稳定性下降，绝缘损坏；

d. 加速高分子材料和绝缘材料老化，包括氧化、开裂、化学反应等；

e. 材料膨胀造成机械应力增大或磨损增大

为了考察高温负载对试样的影响，确定试样在高温负载条件下工作的适应性。该实验一般用到高温试验箱。

在高温直流负载条件下，被试样品会受到高温应力和电应力的双向作用，其电性能和内部结构都会有一定程度的变化。试验后对被试样品的电性参数及外观进行检查，就能判断被试样品抵抗高温和电流负载的能力。

试验设备空气老化箱（多单元式老化箱、柜式老化箱、强制通风式老化箱）

试验步骤加热老化箱到试验温度，将试样放入到老化箱中。如果使用多单元老化箱，每个单元中只能放一种橡胶。试样应不受应力，各面自由暴露在空气中，且不受光照。达到规定的老化时间后，从老化箱中取出试样，取出的试样以不受应力的方式在待测试的试验性能

所要求的环境下调节不少于16 h，不超过6天，按照有关性能试验方法测试。

试验结果表示：试验结果的表示应符合与待测性能相关的标准。应报告未老化和老化试样的试验结果，在适当的情况下按照式(1)计算测试性能的变化率

适用范围本部分规定的高温试验适用于非散热和散热试验样品。试验Bb和试验Bd与早期版本无实质上的差异。本高温试验的目的仅限于用来确定元件、设备或其他产品在高温环境下使用、运输或贮存的能力。本高温试验不能用来评价试验样品耐温度变化的能力和在温度变化环境下的运行能力，在这种情况下，应采用GB/T 2423.22。本高温试验方法细分为以下几种：非散热试验样品高温试验：试验Bb，温度渐变；散热试验样品高温试验：试验Bd，温度渐变；试验Be，温度渐变，试验样品在整个试验过程通电。

许多行业都需要能够在极端高温等恶劣环境下可靠工作的电子设备。依照传统做法，在设计需要在常温范围之外工作的电子设备时，工程师必须采用主动或被动冷却技术，但某些应用可能无法进行冷却，或是电子设备在高温下工作时更为有利，可提升系统可靠性或降低成本。这便提出了影响电子系统方方面面的诸多挑战，包括硅、封装、认证方法和设计技术。